缺陷密度(Defect Density, DD)

缺陷密度(Defect Density, DD)為軟體之品質指標﹐其定義為已知缺陷數量除以軟體大小

DD = 已知缺陷數量/軟體大小

所謂已知缺陷數量﹐通常針對特定軟體的某段特定時間﹐統計所有此段時間所確認之缺陷數量﹐如
1. 軟體建構完成後之所有缺陷數量
2. 軟體在某段檢驗時間內之所有發現缺陷數量
3. 軟體上市後所發現之所有缺陷數量等

所謂軟體大小﹐通常以軟體之行數(Line of Code, LOC)表之