Electrical Over Stress (EOS)

Electrical Over Stress (EOS), 這裡的 Stress 是指電壓或電流﹐EOS是指電子元件（通常指IC)受到超過所能負荷的電壓或電流﹐使電子元件受到破壞的現象﹐此破壞不一定是測試過程所偵測﹐因而造成成本更高的市場回修(Field Return)。