HALT & HASS 加速壽命測試與應力篩選

HALT, Highly Accelerated Life Test,加速壽命測試﹐但實際HALT之目的不在於驗證產品﹐而是透過非常嚴苛的環境測試﹐很快地找出產品之弱點﹐藉以提升產品的可靠度。HALT較常用於新產品開發階段﹐透過早期找出產品弱點﹐避免在產品開發的後期所遭遇的重大設計變更。

HASS, Highly Accelerated Stress Screening,加速應力篩選﹐根據HALT的實驗結果﹐訂定適當的HASS測試環境﹐用以取代過去電子產品常用的﹐100%的Burn-in篩選﹐速度快且可以找出過去不易找出的不良現象。HASS也可用來分析客戶退回的商品﹐過去所謂NTF(No Trouble Found)不良現象﹐可以透過較為嚴苛的測試環境而顯現﹐客戶針對NTF的重複抱怨可以因此減少！